About Our Laboratory:
依田研究室では,光ファイバ通信や高集積シリコンフォトニクスにおいて将来必要となる新しい光エレクトロニクスデバイス(光制御素子)の研究を行っています。
研究テーマは、「光学薄膜型デバイス」と「ファイバ型/導波路型光デバイス」の2つに大きくわかれます。概要は下記をご覧ください。

光学薄膜型デバイス: a-Si:H膜を用いたTOチューナブル光波長フィルタの開発

ファイバ型光デバイス: 微小非球面レンズをファイバ先端に形成したPCレンズドファイバの開発


KEYWORDS:
シリコンフォトニクス技術(Si-Ph) 高Δ光導波路 レンズドファイバ 非球面形状パラメータ (曲率半径 R,円錐係数 k)

導波路型光デバイス: シリコンフォトニクス用 スポットサイズ変換器(エッジカプラ)の開発


KEYWORDS:
データセンタ シリコンフォトニクス技術(Si-Ph)[動画] ビームサイズ変換方式 スポットサイズ変換器(SSC)

薄膜型光デバイス:HC-PECVD法やDC-pulseスパッタ法による機能性薄膜の成膜技術開発と応用【共同研究】

現在、食品や電子機器などさまざまな分野において、水蒸気や酸素といったガスの侵入を防ぐためにガスバリア材料が広く使用されています。これらの材料は、基板上にガスバリア膜を形成することで、水蒸気や酸素の侵入を防ぎ、内部の物質を守る役割を果たします。特にSiO₂薄膜は、①絶縁性が高く、基材の腐食を防止できる、②反射防止効果を付与できる、という特性を有しており、ガスバリア性能を発揮するために使用されています。本研究室では、このSiO₂薄膜を、熱に弱いPET基板にも成膜可能なHC-PECVD装置DCパルススパッタ装置を用いて成膜し、カルシウム腐食法赤外分光エリプソメトリを駆使して膜のバリア性能(水蒸気透過度:WVTR)を評価しています。成膜と評価を繰り返して、優れたバリア性を持つ薄膜の開発を目指しています。

KEYWORDS:
HC (Hollow-Cathode) PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) DCパルススパッタ 水蒸気バリア カルシウム腐食法