2020年9月4日 / 最終更新日時 : 2020年9月4日 yodah-lab IR 【IR】nkデータ of Au 試料：＊Au膜/スライドガラス基板＊膜厚： 150nm＊成膜方法： スパッタ 測定：＊赤外域多入射角分光エリプソメータ(IR-VASE)＊エリプソ測定： 入射角 55° 65° 75°，波数分解能 16cm^-1＊反射 […]
2020年8月23日 / 最終更新日時 : 2020年8月29日 yodah-lab IR 【IR】nkデータ of 石英ガラス(SiO2) 試料：＊石英ガラス＊基板厚： 3.0mm 測定：＊赤外域多入射角分光エリプソメータ(IR-VASE)＊エリプソ測定： 入射角 50° 60° 70°，波数分解能 16cm^-1＊透過率測定： 入射角 0°＊測定日： […]
2020年8月21日 / 最終更新日時 : 2020年8月29日 yodah-lab IR 【IR】nkデータ of 結晶シリコン(c-Si) 試料：＊シリコンウエハ＊基板厚： 2.4mm 測定：＊赤外域多入射角分光エリプソメータ(IR-VASE)＊エリプソ測定： 入射角 55° 65° 75°，波数分解能 16cm^-1＊透過率測定： 入射角 0°＊測定日： […]
