【VIS+NIR】nkデータ of a-Si:D膜
- 試料：
＊a-Si:D/石英基板
＊成膜方法： スパッタ
＊膜厚： 1990nm
＊基板厚： 0.5mm - 測定：
＊分光光度計(V-570)＋絶対反射率測定ユニット
＊波長 WL： 400-2000nm（VIS/NIR切替：850nm）
＊入射角： 5°
＊反射率 R1： 有効数字3桁または小数第1-2位まで
＊透過率 T1： 有効数字3桁または小数第1-2位まで
＊測定日： 2018/11/23 - 解析：
＊屈折率 n_fit： 有効数字3-4桁；K-K関係なし
＊消衰係数 k_smooth： 有効数字1-2桁；K-K関係なし
＊nkデータ名： (n,k)a-SiD_b81123【A】
＊プログラム： CalcNK_v4.7 - メモ：
＊特記なし
WL(nm) n k
2000 3.474 0.00001
1550 3.488 0.00001
905 3.620 0.00353
…
650 3.780 0.01778
550 3.960 0.03999
450 4.528 0.14060
